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QRM-MicroCT-BarPattern-NANO分辨率測(cè)試卡,內(nèi)含兩個(gè)3mm×3mm硅質(zhì)芯片,分別水平和垂直安裝,芯片上刻有條狀(溝槽)和點(diǎn)狀圖樣,度規(guī)格為:1μm,2μm,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,8μm,9μm,10μm.
更新時(shí)間:2024-07-05Cirs 016A-BR12分辨率測(cè)試卡,016A-BR12高分辨率線(xiàn)對(duì)卡只需一次曝光即可對(duì)乳房 X 線(xiàn)攝影系統(tǒng)分辨率進(jìn)行 QC 檢查!
更新時(shí)間:2024-07-03JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦X射線(xiàn)系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式
更新時(shí)間:2024-07-31JIMA RT RC-05B分辨率測(cè)試卡是一款采用半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率,確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。這對(duì)應(yīng)于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之間的焦斑尺寸。
更新時(shí)間:2024-07-30USAF 1951分辨率測(cè)試卡,光學(xué)成像系統(tǒng)的分辨率指該系統(tǒng)能否分開(kāi)兩個(gè)靠近的點(diǎn)或物體細(xì)節(jié)的能力,通常以每毫米可以識(shí)別的線(xiàn)對(duì)數(shù)(lp/mm)來(lái)表示光學(xué)成像系統(tǒng)分辨率的大小
更新時(shí)間:2024-07-24QRM-MicroBar測(cè)試模體,QRM QRM-MicroBar測(cè)試卡內(nèi)含兩個(gè)3mm×3mm硅質(zhì)芯片,分別水平和垂直安裝,芯片上刻有條狀(溝槽)和點(diǎn)狀圖樣,度規(guī)格為:1μm,2μm,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,8μm,9μm,10μm.
更新時(shí)間:2020-05-12MicroCT-Barpattern-NANO分辨率測(cè)試卡,MicroCT-Barpattern-NANO納米顯微CT柱狀測(cè)試卡,采用雙硅芯片相互垂直、通過(guò)塑料支架固定的設(shè)計(jì)理念,使兩個(gè)3 x 3 mm²芯片均呈現(xiàn)數(shù)組線(xiàn)狀或點(diǎn)狀圖樣,寬度和直徑從1µm到10µm不等。
更新時(shí)間:2020-05-08JIMA(日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器,JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線(xiàn)系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線(xiàn)系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
更新時(shí)間:2020-05-20QRM QRM-MicroBar分辨率測(cè)試卡 內(nèi)含兩個(gè)3mm×3mm硅質(zhì)芯片,分別水平和垂直安裝,芯片上刻有條狀(溝槽)和點(diǎn)狀圖樣,度規(guī)格為:1μm,2μm,3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,8μm,9μm,10μm.
更新時(shí)間:2024-06-17CONTACT
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